Sakhanda Wire
NVDA $212.21 -4.40% MSFT $521.08 -2.23% GOOGL $324.22 -3.15% META $648.85 -6.98% AMZN $250.38 -4.57%
← К новостям

Основы масштабируемого ИИ

Масштабируемая система ИИ требует прочного фундамента. Данные, инженерные решения, платформы, операционные модели и управление должны объединиться и работать как единое целое. На этой сессии конференции EmTech Future, организованной MIT Technology Review, рассматривается, что необходимо для создания такого фундамента в условиях жесткого регулирования и как ответственная и надежная реализация может превратить новые возможности, включая агентные системы, в долгосрочную ценность для инвесторов.


О спикере

Цзин Ван, главный специалист, Центр ИИ и аналитики, Vanguard

Цзин Ван руководит Центром ИИ и аналитики Vanguard (CAI), развивая возможности компании в области ИИ, машинного обучения, генеративного ИИ и поведенческой науки. Ее команда стимулирует инновации, исследования и внедрение решений в масштабах всей компании, помогая Vanguard превращать новые технологии в надежные решения, которые улучшают клиентский опыт, повышают результаты инвесторов и создают измеримую бизнес-ценность.

До своей нынешней должности Цзин занимала ряд руководящих постов в подразделениях Vanguard, отвечающих за финансовые услуги, решения для сотрудников, международную деятельность и корпоративные услуги. За время работы в компании она руководила командами и общеорганизационными инициативами, которые способствовали реализации стратегических приоритетов, улучшению результатов для клиентов и повышению эффективности бизнеса во всех подразделениях компании.

Она присоединилась к Vanguard в 2009 году после нескольких лет работы в должности главного специалиста в Boston Consulting Group. Цзин получила степень бакалавра физики в Университете науки и технологий Китая, докторскую степень в Пенсильванском университете и степень MBA по финансам и маркетингу в Уортонской школе бизнеса Пенсильванского университета. Цзин имеет лицензии Series 7, 24 и 65.

Переведено автоматически с английского. Оригинал статьи — по ссылке ниже.

Впервые опубликовано изданием MIT Tech Review

Читать оригинал на MIT Tech Review ↗

Текст и изображения принадлежат MIT Tech Review и приводятся здесь с указанием авторства и ссылкой на оригинальную публикацию.

← К новостям

Ещё новости

Все последние новости